最新ニュース
投稿日時: 2019-03 (199 ヒット)

無料セミナー・無料技術資料ほかご用意しています!
 
2019年4月17日(水)より幕張メッセにて開催される、テクノフロンティア2019第32回 EMC・ノイズ対策技術展に出展いたします。市場でのノイズによるトラブルを想定したEMC試験をご紹介し、お客さまの製品信頼性の向上、品質向上にお役立て頂ければと存じます。みなさまのご来場を心よりお待ち申し上げます。

 

日時 : 2019年4月17日[水]〜19日[金]AM10:00〜PM5:00

会場 : 幕張メッセ(国際展示場5ホール) ブースNo.5D-01

テクノフロンティア2019 第32回 EMC・ノイズ対策技術展の出展案内状はこちら。(PDFファイル)
http://www.noiseken.co.jp/uploads/photos1/407.pdf

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投稿日時: 2019-03 (74 ヒット)

水銀リレー方式に代わる、インパルスノイズ試験器販売

市場トラブルの問題解決に

 

従来の水銀リレー方式では実現が出来なかった、試験パルスの安定化に伴う試験時の再現性向上、消耗品の交換を減らす事によるコスト削減や、パルス幅設定などの操作性向上など、お客さまの製品品質の向上、およびEMC試験の省力化・効率化を実現します。

 

【新製品】インパルスノイズ試験器(半導体リレー方式)INS-S220の詳細はこちら

 

○ PDFカタログはこちら

http://www.noiseken.co.jp/modules/weblinks/singlelink.php?lid=81



投稿日時: 2018-12 (213 ヒット)

製品レベルのEMC品質を担保するには、システム・セットレベルのノイズ品質を確保すること、更にはそれらの構成要素である半導体のEMCノイズ品質を確保することが重要です。

 

2018年度の招待講演は、「自動運転時代の自動車ロバスト設計を支えるEMC評価」、「ドローンにおけるEMC対策とは」、「スマホを用いたその場の低周波電磁界計測」の3つのご講演をお願いしました。これら講演を通じて、皆さまにはEMCノイズについて、より身近に感じられるようになって頂ければと思います。

そしてこれらに先立ち、製品を支える「半導体レベル・システムレベル」の評価技術について、当該分野の専門家であるJEITA委員から、国際規格および評価時の注意点等を中心に詳細解説をすると共に、当SCの活動内容についても報告致します。

また、今年度初の試みとして、講演者や会場の皆様にようる討論の場を設け、より良いEMC設計のあり方を考えられるように企画しました。

 

時節柄、業務ご多用のことと存じますが、多くの皆様のご参加をお待ちしております。

 

日時:2019年1月25日(金) 9:35〜17:00
会場:(一社)電子情報技術産業協会 416会議室
   〒100-0004 東京都千代田区大手町1-1-3 大手町センタービル4F

 

『1月25日(金)半導体EMCセミナー』の詳細はこちらをご覧ください。

 

JEITA集積回路製品技術小委員会のホームページはこちら

http://semiconjeitassc.jeita-sdtc.com/spt/



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    この冊子は、EMCの黎明期から日本及び世界のEMCの発展にご尽力頂いた方々の後世に伝えるメッセージとしてご厚意によりご執筆頂いたものです。ご一読いただければ幸いです。