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投稿日時: 2017-12 (153 ヒット)

製品レベルのEMC品質を担保するには、システム/セットレベルのノイズ品質を確保すること、更にはそれらの構成要素である半導体のEMCノイズ品質を確保することが重要です。

 

2017年度の特別講演は、新たな試みとして半導体の設計領域に踏み込んだEMC設計について、また製品レベルでは『鉄道におけるEMC』についてのご講演をお願いしました。そしてこれらに先立ち、製品を支える「半導体レベル・システムレベル」の評価技術について、当該分野の専門家であるJEITA委員から、国際規格の最新動向と評価時の注意点等を中心に詳細解説をすると共に、当SCの活動内容についても報告致します。

 

時節柄、業務ご多用のことと存じますが、多くの皆様のご参加をお待ちしております。

 

日時:2018年1月19日(金) 9:45〜16:45
会場:中央大学駿河台記念館 670号室

 

『1月27日(金)半導体EMCセミナー』の詳細はこちらをご覧ください。

http://semiconjeitassc.jeita-sdtc.com/spt/docs/20180119_EMC_info.pdf

 

JEITA集積回路製品技術小委員会のホームページはこちら

http://semiconjeitassc.jeita-sdtc.com/spt/



投稿日時: 2017-12 (189 ヒット)

来場者特典、無料特別プレゼント
「自動車・車載機器用 EMC試験規格概要 2018 年度版」
オートモーティブワールド2018 第10回 国際カーエレクトロニクス技術展 出展のご案内


自動車・車載機器用EMC試験規格概要2018年度版 2018年1月17日より東京ビックサイトにて開催されるオートモーティブワールド2018 第10回国際カーエレクトロニクス技術展に出展いたします。是非ご来場ください!

日時:2018年1月17日[水]〜19日[金]AM10:00〜PM6:00(最終日PM5:00)
会場:東京ビックサイト(東5ホール) 小間番号:E47-38
展示会URL:http://www.car-ele.jp/

ご来場者さまだけの無料特別プレゼント!
『自動車・車載機器用EMC試験規格概要 2018年度版』


主要なEMC試験の規格概要のほか、最新の規格動向などをまとめた冊子です。ご来場をされたお客さまにだけ、無料にて配布をさせて頂きます。
本展示会では、ファスト・トランジェント/バースト試験器 FNS-AX4を展示しております。そのほか、電磁界可視化システムEPS-02シリーズなどを展示予定です。

詳細は、カーエレクトロニクス技術展出展の案内状をご覧ください。
http://www.noiseken.co.jp/uploads/photos1/148.pdf


■□■□■ オートモーティブワールド2018への入場について ■□■□■
事前に主催者ホームページにて招待券をご請求頂き、来場時に持参されると無料にてご入場頂けます。
主催者ホームページ(国際カーエレクトロニクス技術展)はこちら
https://contact.reedexpo.co.jp/expo/NWJ/?lg=jp&tp=inv&ec=CAR
弊社営業担当も無料招待状をお配りいたしておりますのでお気軽にお声掛けください。
 

 



投稿日時: 2017-11 (371 ヒット)

「EMC試験を楽にする」試験器を発売!
 ファスト・トランジェント/バースト試験器 FNS-AX4-A20/B63

始業前点検を省略するためのプリチェック機能や、試験器と供試品の接続を容易にするオプション品、作業工数を削減できるソフトウェア制御、校正日事前お知らせ機能、試験履歴の自動保存機能など、新しいファスト・トランジェント/バースト試験器ではEMC試験の省力化・効率化を実現します。
また、IEC 61000-4-4規格は、供試品へのノイズの侵入経路をコモンモードでのみ規定していますが、このEFT/B試験器では市場でのトラブル事例を考慮し、ノーマルモードでの試験も可能とすることで、お客さまの製品品質の向上にも貢献いたします。

 

ファスト・トランジェント/バースト試験器 FNS-AX4-A20/B63 の詳細はこちら

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