2018年4月18日（水）より幕張メッセにて開催される、テクノフロンティア2018第31回EMC・ノイズ対策技術展に出展いたします。
当日は、来場者さまだけの特典として『ファスト・トランジェント/バースト試験法ガイドブック』無料配布のほかファストトランジェントバースト試験器FNS-AX4やNewインパルスノイズ試験器、空間電磁界可視化システムEPS-02シリーズなどさまざまな製品を展示します。
みなさまのご来場を心よりお待ち申し上げます。

日時 : 2018年4月18日［水］〜20日［金］ 10:00〜17:00
会場 : 幕張メッセ　ホール5 ブースNo.5D-01
テクノフロンティア2018 第31回 EMC・ノイズ対策技術展の出展案内状はこちら。(PDFファイル)
⇒http://www.noiseken.co.jp/uploads/photos1/153.pdf 　

【開催間近】パワエレに役立つ計測ソリューション
【電気的ノイズの測る化セミナー・展示会】募集開始のご案内

この度、(株)ノイズ研究所、(株)エヌエフ回路設計ブロック、日置電機(株)、(株)テクシオ・テクノロジー、日本電計(株)の５社共催で、
【電気的ノイズの測る化セミナー・展示会】を開催する運びとなりました。

各社エキスパートがモータ・インバータ・コンバータ等パワエレの計測技術およびノイズ対策の効率向上に直結するご提案を行います。

ノイズ研究所では数多くのセミナーにてご好評をいただいている、人気講師の石田武志が、可視化によるノイズ対策についてわかりやすく解説いたします！

みなさまのご来場を心よりお待ちしております。
 

◆第1部◆「ゲイン・フェーズ測定〜DC/DCコンバータやPFC回路のループゲイン安定性評価」のための計測技術紹介
○ 講師：株式会社エヌエフ回路設計ブロック
マーケティング営業企画部 佐藤公治

◆第2部◆ インバータ及びモーター効率を高精度に計測するための計測技術の紹介
○ 講師：日置電機株式会社
プロダクトマーケティング部 原野正幸

◆第3部◆ サイト等での正式な試験前のEMCプリテストツールのご提案
○ 講師：株式会社テクシオ・テクノロジー
マーケティングサポート部 佐藤誠

◆第4部◆ 可視化によるノイズ対策効率化のご提案
○ 講師：株式会社ノイズ研究所
IEC SC77 MT12エキスパート委員  石田武志

※敬称略

〇 ノイズ研究所 セミナー講師紹介
【石田 武志】

・IEC SC77B MT12エキスパート委員
・自動車技術会 CISPR分科会 委員
・株式会社ノイズ研究所 技術部 上席部長　
・さまざまな工業会や個別メーカーのEMC規格制定にも携わる。

セミナーのお申込み方法

本セミナーの詳細／お申込みは、日本電計(株)さまの下記ホームページより
お申込みください。
　
● セミナー詳細情報
　http://www.n-denkei.co.jp/news/news-event/7174/

● お申込みフォーム
　https://www.n-denkei.co.jp/app/public/form/view/OTg

★☆★☆★☆★☆★　先着順での受付となります　★☆★☆★☆★☆★☆★

ご興味のあるお客さまは是非お早めにお申込みください。

みなさまのご参加を心よりお待ち申し上げます。

無事に終了しました。沢山のご来場、誠にありがとうございます。

製品レベルのEMC品質を担保するには、システム／セットレベルのノイズ品質を確保すること、更にはそれらの構成要素である半導体のEMCノイズ品質を確保することが重要です。

2017年度の特別講演は、新たな試みとして半導体の設計領域に踏み込んだEMC設計について、また製品レベルでは『鉄道におけるEMC』についてのご講演をお願いしました。そしてこれらに先立ち、製品を支える「半導体レベル・システムレベル」の評価技術について、当該分野の専門家であるJEITA委員から、国際規格の最新動向と評価時の注意点等を中心に詳細解説をすると共に、当SCの活動内容についても報告致します。

時節柄、業務ご多用のことと存じますが、多くの皆様のご参加をお待ちしております。

日時：２０１８年１月１９日(金) ９：４５〜１６：４５
会場：中央大学駿河台記念館 ６７０号室

『1月27日(金)半導体ＥＭＣセミナー』の詳細はこちらをご覧ください。

http://semiconjeitassc.jeita-sdtc.com/spt/docs/20180119_EMC_info.pdf

JEITA集積回路製品技術小委員会のホームページはこちら

http://semiconjeitassc.jeita-sdtc.com/spt/