日時 : 2019年4月17日［水］〜19日［金］AM10:00〜PM5:00

会場 : 幕張メッセ（国際展示場5ホール） ブースNo.5D-01

テクノフロンティア2019 第32回 EMC・ノイズ対策技術展の出展案内状はこちら。(PDFファイル)
⇒http://www.noiseken.co.jp/uploads/photos1/407.pdf

水銀リレー方式に代わる、インパルスノイズ試験器販売

市場トラブルの問題解決に

従来の水銀リレー方式では実現が出来なかった、試験パルスの安定化に伴う試験時の再現性向上、消耗品の交換を減らす事によるコスト削減や、パルス幅設定などの操作性向上など、お客さまの製品品質の向上、およびEMC試験の省力化・効率化を実現します。

【新製品】インパルスノイズ試験器（半導体リレー方式）INS-S220の詳細はこちら

○ PDFカタログはこちら

http://www.noiseken.co.jp/modules/weblinks/singlelink.php?lid=81

製品レベルのEMC品質を担保するには、システム・セットレベルのノイズ品質を確保すること、更にはそれらの構成要素である半導体のEMCノイズ品質を確保することが重要です。

2018年度の招待講演は、「自動運転時代の自動車ロバスト設計を支えるＥＭＣ評価」、「ドローンにおけるＥＭＣ対策とは」、「スマホを用いたその場の低周波電磁界計測」の３つのご講演をお願いしました。これら講演を通じて、皆さまにはＥＭＣノイズについて、より身近に感じられるようになって頂ければと思います。

そしてこれらに先立ち、製品を支える「半導体レベル・システムレベル」の評価技術について、当該分野の専門家であるJEITA委員から、国際規格および評価時の注意点等を中心に詳細解説をすると共に、当SCの活動内容についても報告致します。

また、今年度初の試みとして、講演者や会場の皆様にようる討論の場を設け、より良いＥＭＣ設計のあり方を考えられるように企画しました。

時節柄、業務ご多用のことと存じますが、多くの皆様のご参加をお待ちしております。

日時：２０１９年１月２５日(金) ９：３５〜１７：００
会場：（一社）電子情報技術産業協会　４１６会議室
　　　〒100-0004　東京都千代田区大手町1-1-3　大手町センタービル４Ｆ

『1月25日(金)半導体ＥＭＣセミナー』の詳細はこちらをご覧ください。

JEITA集積回路製品技術小委員会のホームページはこちら

http://semiconjeitassc.jeita-sdtc.com/spt/