インパルスノイズ試験器（半導体リレー方式） INS-S220 / S420

方形波インパルスノイズ試験器インパルスノイズ試験器（半導体リレー方式）　INS-S220 / S420

市場トラブルの問題解決に

スイッチングデバイスの接点間の放電、電子モーターから発生するアーク放電などによる立ち上がりの早い高周波ノイズを模擬的に発生し、電子機器の耐性を評価する試験器です。
試験パルスに含まれている周波数成分の幅が広く、また、パルス幅を可変する事でエネルギー量も変化させることができるため、市場でのノイズトラブルに対して再現性の高いノイズ試験が行えます。

インパルスノイズ試験器（半導体リレー方式）　INS-S220 / S420製品画像

EMC Testing

特徴

主な特徴

JEMA JEM-TR 177、JEC 2501、（NECA TR-28）に準じた試験が実施できます。ボタン操作だけでパルス幅等の設定が行える為、試験条件設定の時間短縮ができます｡試験パルス波形の安定性が向上し、再現性の高い試験ができるように．．．

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- JEMA JEM-TR 177、JEC 2501、（NECA TR-28）に準じた試験が実施できます。
- ボタン操作だけでパルス幅等の設定が行える為、試験条件設定の時間短縮ができます｡
- 試験パルス波形の安定性が向上し、再現性の高い試験ができるようになりました。
- 消耗品数を減らしコスト削減ができます。
- ショートプラグ採用により、コモン／ノーマルモードの切換が容易に設定できます。
- TEST TIME 設定により試験時間の設定が可能となりました。
- 50Ω系終端器を試験器に内蔵し、容易に配線ができます。
- より高速なパルス繰返し周期での試験が可能になりました。（INS-S220のみ）
- アウトレットパネルにより、EUTのACプラグを直接接続できます。（オプション）
- 各種プローブ、カップリング･アダプタなどにより、様々な試験ができます。（オプション）
- 外付けの重畳ユニット（CDN）の追加により、EUT電源容量三相の試験もできます。（オプション）
- 専用ソフトウェアを使用する事で、様々な試験条件で試験ができます。（オプション、INS-S420のみ）
市場トラブルの問題解決　高周波、エネルギー量変化ができる試験パルス

パルス幅が狭い50ns～100ns程度のインパルスは、エネルギーが小さい代わりに短時間での立上がり／立下がりの計2度の過渡変動による電圧変動、および急峻に発生する電磁界での誘導結合による影響を電子回路に与えます。

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パルス幅が狭い50ns～100ns程度のインパルスは、エネルギーが小さい代わりに短時間での立上がり／立下がりの計2度の過渡変動による電圧変動、および急峻に発生する電磁界での誘導結合による影響を電子回路に与えます。また、パルス幅の広い800ns～1000ns などのインパルスはエネルギー量が大きいため、回路へ大きな電圧変動を与えやすくなります。インパルス試験は国際規格IEC 61000-4-4で定められているファスト・トランジェント／バースト試験に比べ立ち上がり時間が高速なため、1GHｚ近くまでの高い周波数成分を含んでいます。このためEUTに対してノイズを印加した際に、より回路内部に侵入しやすく電子回路に影響を与えやすくなります。なお、インパルスのパルス幅により包含する周波数スペクトラムの成分および強度が異なるため、数種類のパルス幅での試験の実施をおすすめします。

詳細はノイズテクニカルレポート（電源線の高周波ノイズ試験について）　https://www.noiseken.co.jp/products/catalog/emc/ins/1019/　をご覧ください。
試験結果の再現性が向上　より定量的な試験ができます

従来の水銀リレー方式から半導体リレー方式に変更することで試験パルス波形の安定性が向上し、従来よりも定量的で試験結果の再現性が高い試験ができます。

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従来の水銀リレー方式から半導体リレー方式に変更することで試験パルス波形の安定性が向上し、従来よりも定量的で試験結果の再現性が高い試験ができます。また、水銀リレー劣化時に発生する出力波形不良も無くなりました。
誤動作発生率の向上　試験にかかる時間を短縮できます（INS-S220のみ）

試験パルスの繰返し周期を従来品より高速化することで、製品の誤動作発生率が向上し、試験時間の短縮が期待できます。

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試験パルスの繰返し周期を従来品より高速化することで、製品の誤動作発生率が向上し、試験時間の短縮が期待できます。

例）繰返し周期を2msとした場合
パルス幅設定の簡略化　設定にかかる時間を短縮できます

従来モデル（INS-4020/4040）のパルス幅設定は、専用の同軸ケーブルを手動で切り替える煩わしさがありましたが、新しいインパルスノイズ試験器INS-S220ではボタン操作で簡単に設定ができ、設定時間の短縮と、接続ミスを軽減します。

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従来モデル（INS-4020/4040）のパルス幅設定は、専用の同軸ケーブルを手動で切り替える煩わしさがありましたが、新しいインパルスノイズ試験器INS-S220ではボタン操作で簡単に設定ができ、設定時間の短縮と、接続ミスを軽減します。
接続の簡略化　接続にかかる時間を短縮できます

EUTの接続が簡単なアウトレットパネル方式を採用。

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EUTの接続が簡単なアウトレットパネル方式を採用。
各国のコンセント形状に応じたアウトレットパネル（オプション）を使用することで、供試品を簡単に接続して試験ができます。
コストの削減　消耗品の交換を減らしました

従来の水銀リレー（消耗品）から半導体リレー方式を採用。

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従来の水銀リレー（消耗品）から半導体リレー方式を採用。
パルス幅設定ケーブルや水銀リレーなどの消耗品が不要となり、交換にかかるコストを削減しました。
ノイズ対策が容易　誤動作発生箇所の特定ができます

電源線、通信線、ハーネス、筐体から基板レベルまで、さまざまなノイズ印加用のオプション品を多数用意していますので、誤動作発生箇所の特定を容易にします。

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電源線、通信線、ハーネス、筐体から基板レベルまで、さまざまなノイズ印加用のオプション品を多数用意していますので、誤動作発生箇所の特定を容易にします。

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詳細仕様

モデル名		INS-S220	INS-S420
パルス設定範囲①	パルス出力電圧	0.50kV〜0.99kV ±10%　0.01kV ステップ	−
	パルス幅	100ns〜1000ns ±10%　50nsステップ
	繰返し周期	1ms〜999 ms ±10%　1ms ステップ
パルス設定範囲②	パルス出力電圧	1.00kV 〜2.00 kV ±10%　0.01kV ステップ	0.50kV〜4.00kV ±10%　0.01kV ステップ
	パルス幅	50ns〜1000 ns ±10%　50nsステップ	50ns ±15%、 100ns〜1000ns ±10%　50nsステップ
	繰返し周期	10ms〜999 ms ±10%　1ms ステップ
出力電圧		0.5〜2.00kV±10％　（10Vステップ）	0.5〜4.00kV±10％　（10Vステップ）
極性		正／負
立ち上がり時間		3ns以下
出力インピーダンス		50Ω
終端抵抗		50Ω
繰返し周期	LINE PHASE	50Hz/60Hz　注入位相角０～360°　±10°（1°ステップ）　重畳電源のL–N に同期
	VARIABLE	1ms～999ms ±10%（パルス設定範囲 ①） 10 ms～999ms ±10%（パルス設定範囲 ②）	10 ms〜999ms ±10%
	EXT TRIG	動作周期：10ms以上　パルス幅：1ms以上　入力レベル：TTL/オープンコレクタ負論理 LINE PHASE モードを選択し、周期16～20 ms の入力がある場合に外部CDN のゼロクロス同期信号として認識
	1 SHOT	1 SHOT スイッチを押す毎に単発出力 PHASE モード時は設定位相角に同期出力
メモリ容量		５試験
試験時間		1s ～ 999s ±10%　1sステップ
重畳相切換		L(+), N(－), PE／PULSE OUT　※同軸ケーブルによる手動切換
重畳モード		コモンモード／ノーマルモード　※ショートプラグによる手動切換
被試験装置（EUT）電力容量		単相 AC240V／DC125V 16A 　(L(+), N(－), PE)
外部制御		特注にて対応。お問い合わせください。	RS-232 準拠光通信
電源		AC100～240V 50Hz/60Hz
使用温度／湿度範囲		15～35℃　25～75％
寸法／重量		（W）430×（H）249×（D）540mm　突起含まず約20kg	（W）430×（H）349×（D）540mm　突起含まず約23kg
高電圧同軸コネクタ		NMHV　当社カスタム
添付品		同軸ケーブル 30cm（02-00155A）：２本、SG設定用ショートプラグ（02-00106A）：1個、SGケーブル（05-00103A）：1本、アウトレットパネル：１個、電源ケーブル：1本、取扱説明書：1冊、添付品バッグ：1個