DPIイミュニティ試験システム - 株式会社ノイズ研究所

イミュニティ試験システム DPIイミュニティ試験システム

DPIイミュニティ試験は、IEC規格で標準化されている半導体製品（IC）に対してのイミュニティ試験です。

評価する半導体製品（IC）をテストボード上に搭載し、RF妨害電力を直接注入し、イミュニティ耐性を評価します。試験は、試験周波数毎に試験レベル（電力）を段階的に上げていき、その都度、性能確認を実施する必要があります。
誤動作発生時にはその誤動作状態を記録する必要があり、大変な手間と時間が掛かりますが、当社のDPIイミュニティ試験システムは試験の実施から誤動作判定までのプロセスを一貫して行い、試験時間と試験実施者の手間を省力化できる画期的な試験システムです。

RF Testing

特徴

- - IEC 62132-4（DPI法）に準拠した試験が行えます。
  - IEC 62132-1のIC performance classesに準拠した判定（Class A/C/D1/D2/E）が自動で行えます。
    ※Class B判定は行えません。
  - 複数台の誤動作判定機器を使用し、任意に設定した誤動作判定項目を組み合わせて、誤動作判定が行えます。
  - マルチスイープ機能により試験時間を大幅に短縮することができます。
  - デジタルI/Oを使用することにより、外部入力による誤動作判定と、Class D1判定時のICリセット処理が行えます。
既存のRFイミュニティ試験システムを流用することもできます。 ※詳細はお問い合わせ下さい。
専用基板でのRF妨害電力の注入の他、バイアスティーを用いた簡易注入試験、TEM Cellを用いた放射イミュニティ試験にも対応できます。