規格試験では誤動作が発生せず「製品が市場でトラブル」、このような問題を抱えていませんか？
規格で規定されているEMC試験だけの実施では、製品の信頼性の担保には不足している事が多くあります。
インパルスノイズ試験は、市場でのトラブルに対して再現性の高い試験です。
試験を楽にするリモートソフトウェアの活用や、トラブル対策に役立つ、カップリング装置やラディエーションプローブを用いた試験が有効です。
また、静電気試験においても規格で規定された試験の他に、市場でのトラブルを想定した微小ギャップ放電チップを用いた試験などがあります。
インパルスノイズ試験、静電気試験の深化をご覧ください。

インパルスノイズ試験器　INS-/S220/S420 & IJ-AT450

インパルスノイズ試験器は、立ち上がりの早い高周波ノイズを模擬的に発生し、電子機器の耐性を評価する試験器です。S220は2ｋV、S420は4kVまでの試験ができます。
インパルスノイズ試験器用自動CDN：IJ-AT450 で、3相交流ライン及び高圧DCラインへの試験ができます。

● カップリング・アダプタやプローブなどを利用することで、誤動作発生箇所の特定ができます
● IJ-AT450を試験器と組み合わせることで、AC３相4線式500V/50Aおよび、DC250V/50Aまでの試験ができます

市場トラブルの問題を解決！ 高周波、エネルギー量変化ができる試験パルス

パルス幅が狭い50ns～100ns程度のインパルスは、エネルギーが小さい代わりに短時間での立上がり／立下がりの計2度の過渡変動による電圧変動、および急峻に発生する電磁界での誘導結合による影響を電子回路に与えます。また、パルス幅の広い800ns～1000ns などのインパルスはエネルギー量が大きいため、回路へ大きな電圧変動を与えやすくなります。インパルス試験は国際規格IEC 61000-4-4で定められているファスト・トランジェント／バースト試験に比べ立ち上がり時間が高速なため、1GHｚ近くまでの高い周波数成分を含んでいます。このためEUTに対してノイズを印加した際に、より回路内部に侵入しやすく電子回路に影響を与えやすくなります。なお、インパルスのパルス幅により包含する周波数スペクトラムの成分および強度が異なるため、数種類のパルス幅での試験の実施をおすすめします。

様々な場所にノイズをクランプやプローブを使用し、誤動作発生個所を特定

電源線、通信線、ハーネス、筐体から基板レベルまで、さまざまなノイズ印加用のクランプやプローブなどのオプション品を多数用意していますので、誤動作発生箇所の特定を容易にします。

静電気試験器 ESS-S3011A

静電気試験器は、人体からの静電気放電を模擬し、電子機器の耐性を評価する試験器です。
ESS-S3011Aは複雑な試験を簡単にできるプログラムタイプ試験器で、IEC 61000-4-2 /ISO 10605規格に準拠した試験ができます。
また、オプションのCRユニットや微小ギャップ放電チップの利用で規格で定義されている以上の厳し試験などが実施できます。

より厳しいESD（静電気）耐性評価ができます

微小ギャップ放電チップは、接触放電の放電電流ピークがより大きく、立ち上がり時間がより高速になる放電チップです。ESD試験は、イミュニティ試験の中でも厳しいと言われていますが、より製品品質を高める加速試験として、フィールドで発生する特異なESD現象の再現確認としてご利用頂けます。

オプションのCRユニットを交換することで、IEC 61000-4-2で規定されている静電気試験の他に、ISO 10605規格での試験、その他様々な放電波形での試験が実施できます。