株式会社ノイズ研究所

イミュニティ試験システム 近接照射イミュニティ試験システム

近年、非接触給電や無線機器の増加とともに、これらの機器が他の電子機器に近接する状況が増えることで、電磁干渉リスクが懸念されています。近接照射イミュニティ試験は近接したアンテナから放射される磁界および電界に対して、電子機器の耐性を評価する試験です。
低周波帯はループアンテナによる磁界、高周波帯は、TEMホーンアンテナによる電界を発生させます。

近接照射イミュニティ試験システム製品画像
RF Testing

ポップアップタイトル

close
close

関連情報

Contactお問い合わせ

News

  1. 2025年1月15日 イベント情報

    KOKKA TECHNO FORUM 2025 開催のご案内

  2. 2024年12月4日 お知らせ

    年末年始休業のご案内

  3. 2024年11月28日 お知らせ

    独立行政法人 国際協力機構(JICA)が発行する「ジェンダーボンド(サステナビリティボンド)」への投資について

  4. 2024年11月27日 イベント情報

    【1月22日より開催!】第17回 国際カーエレクトロニクス技術展 ~カーエレ JAPAN~ に出展します。

view all

Contactお問い合わせ